J'son & Partners: Анализ потенциала импортозамещения в микроэлектронике: Интегральные схемы по тех.процессу 32 нм

Компания J’son & Partners Consulting представляет результаты исследования: «Анализ потенциала импортозамещения в микроэлектронике: Интегральные схемы по технологическому процессу не более 32 нм».

J’son & Partners Consulting продолжает серию отчетов по импорту и производству микроэлектроники в России, и представляет краткие результаты анализа потенциала импортозамещения в области интегральных схем по производственному процессу не более 32 нм. Зависимость России от импорта современных интегральных схем очень высока. В стране отсутствуют технологии производства электронных компонентов по технологии 32 нм и менее, и их приходится импортировать.

Согласно оценкам J’son & Partners Consulting, российский импорт интегральных схем по технологии не более 32 нм критически зависит от американских поставщиков, на их долю приходится до 93% от общего объема ввозимых изделий в денежном выражении. В то же время, технология 28 нм, внедряемая в настоящее время в стране, не покрывает основных потребностей внутреннего рынка, доля спроса на такие изделия не превышает 3%.

Данный факт говорит о необходимости более агрессивного стимулирования импортозамещения в сфере производства современных интегральных схем. И задачи по импортозамещению должны быть существенно более амбициозны, с учетом продолжающегося стремительного прогресса технологий производства интегральных схем, высококонкурентного международного окружения и миллиардных бюджетов на НИОКР в сфере микроэлектроники других стран.

Основные результаты исследования: «Анализ потенциала импортозамещения в микроэлектронике: Интегральные схемы по технологическому процессу не более 32 нм», а также другие материалы изучайте на корпоративном видеопортале JSON.TV

 








 

ИД «Connect» © 2015-2018

Использование и копирование информации сайта www.connect-wit.ru возможно только с письменного разрешения редакции.

Техподдержка и обслуживание Роман Заргаров


Яндекс.Метрика
Яндекс.Метрика